因此只需要换一个小型匀胶机吸台，就可以将硅片牢牢吸住，不需要像pen基片一样需要贴在玻璃上才能进行旋涂。
两个小时后，许制备好了全部的样品，并在每个硅片背后都标记了编号。
其包含6、9数字的样品，需要在其下方划一道横线，以此确认究竟是6还是9。
…………
回到办公桌，许没忘记向学姐请教测试原理。
陈婉清介绍道：
“普通的x射线衍射实验，也就是xrd，它是给晶体样品打一道x射线，x射线通过晶体，就会发生衍射现象。
产生的衍射信号被设备收集，经过数据分析，可以得到晶体内原子排布的信息。
这种测试是没有维度上区分的，比如这个晶体它在不同的方向上结晶情况不同，就无法通过xrd信号看出。
而我们测试的是掠入射广角x射线衍射，缩写是gi，可以把它理解成为是二维的xrd。
也就是说，我们可以分析晶体在两个维度上的结晶情况。
像是高聚物结晶时，它的主链、支链都可以结晶，结晶的方向一般是垂直的。
我们把它制备成薄膜，那么一个维度是薄膜平面，另一个维度是垂直于薄膜平面的平面外，两个维度上的结晶信号就是不同的。
因此，用gi手段可以很好的看出，高聚物主链、支链各自的结晶性能，而使用xrd，它们的信号就会混杂在一起，无法分辨
第四十八章 光源样品(4/5)